Giacomo Cappellini, Giuseppe D’Arrigo, Viviana Cerantonio, Marcello Cioni, Alessandro Chini, Sonia Zappala, Simone Strano, Leonardo Gervasi, Marcello Giuffrida, Cristina Miccoli, Cristina Tringali, Maria Eloisa Castagna, Ferdinando Iucolano
Biblio references:
Origin: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability